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一般在产品测试时,关于充电测试就不太受重视,因为这个原因导致最近一个产品在试产前,因为用DC电源充电时,主机PCBA主控芯片一直烧机。故此问题引起了重视,过程如下:
现象:
在硬测人员将主机PCBA上5V+和5V-引出接电源瞬间,主控芯片温度开始急速上升,整个PCBA板开始发热,直接短路,电源电压从5V被拉低,电流瞬间上升,远大于1A,此时PCB板已经烧毁。
故我们又选择了几片PCBA,连接好电池,在开始充电前,我们将DC电源短路电流设置到最大200mA,因为我们PCBA配置的充电电流为150mA,一是为了保证DC电源可以输出产品正常工作电流,二是为了限制最大短路电流保护PCBA板。我们将DC电源黑色鳄鱼夹夹住PCBA板的5V-,红色鳄鱼夹开始触碰PCBA的5V+,同时观察DC电源电流显示是否超出正常设置,经过测试,在触碰瞬间,2片PCBA电流均达到最大值200mA,故判定充电异常,需要分析原因。
分析:
- 因为此主控芯片内部自带充电设置,可以通过内部寄存器配置充电电流,故查找到该芯片手册,了解到最大设置电流200mA,而我方嵌入式软件配置只有150mA,没有超过其最大值;
- 我们再分析下充电电路,如下:
VBUS为5V输入,另一端为GND,5V输入经过一个触发电流为1A的自恢复保险丝,即当输入回路突然产生异常大于等于1A的大电流时,该保险丝阻抗迅速增大,电路中电流减小,从而保护后级电路,当加载在两端电压撤去后,电路中无电流,保险丝温度降低,阻抗减小,相当于0Ω电阻。图中VBUSS直接连接到主控芯片,C19电容为预留,不贴。D2为双向ESD,防止外界充电PIN静电耦合到芯片,损坏芯片。故增加D2到地并且增加C18 = 100nF电容,D2和C18一起作为静电防护考虑。
在上述我们就发现,保险丝没有起作用,但是电流已经超过了1A;我们看下保险丝手册,触发时间为0.1s,即100ms。我们初步怀疑是因为充电瞬间产生的浪涌导致芯片损坏,而一般浪涌时间为us级别。保险丝一般无法有效触发。
假设如果是浪涌,一般分为电压浪涌,即du/dt和电流浪涌,即di/dt。故我们通过串联小阻值电阻来限制电流浪涌,通过并联大电容来限制电压浪涌。原理图如下:
我们将F1替换成同封装电阻0402 2.2Ω电阻,C19换上10uF电容。我们知道电阻可以限流,此电流最大从理想无穷到被限制为5V /2.2Ω = 2.2A,我们知道PCBA走线铜皮,导线均有阻抗,不可能无穷大。即电流变化率被限制了,同时我们知道电压对电容的充电曲线,如下图。电容两端电压不能突变,故电压浪涌被限制了。
因此我们在上述试验的2个PCBA板上将2.2Ω电阻和10uF电容换上。我们用同样方法测试,结果显示充电电流正常。故我们要求硬测,模拟充电瞬间,每个PCBA测试200次,观察试验结果。通过一段时间的测试,PCBA均工作正常,无其他异常情况。
则我们再分析,增加0402 封装2.2Ω电阻是否合适?
P = I*I*R = 0.15A*0.15A*2.2Ω = 0.0495W
我们知道0402封装电阻额定功率为0.0625W,0.0495W<0.0625W;
故此封装电阻是合适的。 2.电阻本身压降和充电效率
我们计算在电阻两端产生的压降为U = I*R= 0.15V*2.2Ω = 0.33V
故输入到芯片的实际充电电压为5V - 0.33V = 4.67V
则输入功率P(理论)= 5V*0.15A = 0.75W;
实际输入功率为:P(实际)=4.67V*0.15A = 0.7005W; 故理论估算充电效率为: P(实际)/P(理论) = 0.7005W/0.75W *100%= 93.4%
故经过上述理论计算得出:0402封装 2.2Ω电阻是合适的。
因电阻串联在电路中,需要具体分析,电容并联并不会对原先电路造成影响,故不作具体分析。
今天就到这里,谢谢大家阅读支持。
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