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测电容判断晶振好坏

2023-4-29 12:34| 发布者: 开心| 查看: 12| 评论: 0

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摘要: 经实验,发现用DT890数字万用表的2000pF电容档测量455kHz晶振,可根据电容量判断其好坏;正常值应在250~350pF之间,若是低于200pF,则是内部晶片受强烈振动而破碎了。 ...
    经实验,发现用DT890数字万用表的2000pF电容档测量455kHz晶振,可根据电容量判断其好坏;正常值应在250~350pF之间,若是低于200pF,则是内部晶片受强烈振动而破碎了。

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